採用美國原裝電製冷高性能Si-PIN探測器,解析度高,探測範圍寬,
涵蓋ROHS、鹵素、鍍層、合金及各種常規材料分析的基本要素。
配置國際最先進的DPP數位多道信號集成處理器,配套最新的FP測量軟體,
集成多種譜圖處理演算法和基體校正演算法,有效降低各種干擾譜峰。
| 同時滿足ROHS、鹵素、鍍層、合金等材料分析 | 無需耗材 |
| 集成FP法、Alpha係數法、經驗係數 | 沿用美國成熟的X螢光技術 |
| 軟硬結合的防輻射設計 | 可生成各種人性化的檢測報告 |
| 智慧軟體自動設定參數和濾光片 | 操作簡便、一鍵式操作設計 |
| 多種語言的作業系統 | 快速無損分析樣品;超溫保護、超載保護 |
| 探測器:美國Amptek Si-PIN探測器,高速脈衝高級分析系統 |
| 能量解析度:145ev±5ev |
| X射線管:50w側窗鈹窗型X射線管 |
| 高壓電源:高性能(50KV/2MA) |
| 元素分析範圍:硫(S)-鈾(U) |
| 測量時間:10-300S(可調) |
| 測量含量範圍:2ppm-99.9% |
| 交流220v;工作溫度:10-30°C;測量條件:大氣環境 |
標準配置
| 美國AmptekSi-PIN探測器 | 美國Amptek信號檢測電子電路 |
| 高壓電源 | 側窗鈹窗型X光管 |
| 電腦和噴墨印表機 | 多功能FP測量軟體 |
應用領域





✅亞傑科技股份有限公司 https://www.acceltek.com.tw/
✅我們有各區域的業務專員可提供您最佳的服務
✅請點選客服中心聯絡我們或客服專線:02-29992766